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确保膜厚仪测量数据更准确你知道哪些方面是重点么

膜厚仪分为手持式膜厚仪和台式膜厚仪两种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。

台式的荧光X射线膜厚仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。

保障膜厚仪测量显示值准确性必要懂得以下小技巧

基体金属特性

对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。

检查基体金属厚度是否超过临界厚度，无损检测资源网如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。

不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

不应在试件的弯曲表面上测量。

通常由于膜厚仪的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。

表面清洁度

测量前，应表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。

以是介绍膜厚仪检测试样准确性的方法，别错过哦！